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        數(shù)字IC品質(zhì)分選測(cè)試儀

        數(shù)字IC品質(zhì)分選測(cè)試儀

        產(chǎn)品型號(hào): ICT3100

        所屬分類:集成電路測(cè)試儀

        產(chǎn)品時(shí)間:2024-05-07

        簡(jiǎn)要描述:該儀器特別適合,整機(jī)生產(chǎn)廠商及其它IC應(yīng)用廠家的器件級(jí)進(jìn)廠測(cè)試。目前,對(duì)中小規(guī)模數(shù)字IC進(jìn)行簡(jiǎn)單的邏輯功能測(cè)試,已不能滿足IC用戶的測(cè)試需求ICT3100 數(shù)字IC多值邏輯測(cè)試儀,利用*的多值參數(shù)比較法,可以對(duì)數(shù)字IC進(jìn)行功能測(cè)試并同時(shí)完成各項(xiàng)直流參數(shù)測(cè)試。ICT3100*可以滿足IC用戶的參數(shù)測(cè)試要求。

        詳細(xì)說明:

        數(shù)字IC多值邏輯測(cè)試儀,是我們通過總結(jié)國(guó)外同類產(chǎn)品的優(yōu)點(diǎn),本著實(shí)用、方便、測(cè)試精準(zhǔn)的宗旨,面向國(guó)內(nèi)外市場(chǎng)推出的數(shù)字IC參數(shù)測(cè)試儀(并且在不斷地完善之中)。該儀器特別適合,整機(jī)生產(chǎn)廠商及其它IC應(yīng)用廠家的器件級(jí)進(jìn)廠測(cè)試。目前,對(duì)中小規(guī)模數(shù)字IC進(jìn)行簡(jiǎn)單的邏輯功能測(cè)試,已不能滿足IC用戶的測(cè)試需求。ICT3100 數(shù)字IC多值邏輯測(cè)試儀,利用*的多值參數(shù)比較法,可以對(duì)數(shù)字IC進(jìn)行功能測(cè)試并同時(shí)完成各項(xiàng)直流參數(shù)測(cè)試。ICT3100*可以滿足IC用戶的參數(shù)測(cè)試要求。ICT3100是一種性能實(shí)用、操作簡(jiǎn)單、測(cè)試可信度高、成本低廉的優(yōu)秀測(cè)試儀器。
        主要特點(diǎn)
        1. 測(cè)試電源拉偏狀態(tài)下,輸出電平加載測(cè)試。
        2. 對(duì)輸出電流、輸出電壓直流參數(shù)進(jìn)行測(cè)試的同時(shí),完成真值表功能測(cè)試。
        3. 真值表功能測(cè)試的同時(shí),完成“三態(tài)”(高阻狀態(tài))漏電流測(cè)試。
        4. 對(duì)IC輸入電流、功耗電流測(cè)試。
        5. 輸入漏電流及交叉漏電流測(cè)試。
        6. 測(cè)試過程無須人工干預(yù)。
        7. 用戶可以自選測(cè)試模式,使用方便、操作簡(jiǎn)潔。
        8. 可自動(dòng)識(shí)別74系列中的CMOS器件。
        9. 可以查找未知IC的型號(hào)。
        目前ICT3100的作用單位已遍及通信、電子儀器、電力電子、辦公自動(dòng)化設(shè)備、計(jì)算機(jī)整
        機(jī)、交通電子、消防科學(xué)器材等各個(gè)領(lǐng)域,并獲用戶*好評(píng)。

        技術(shù)規(guī)格: 
        產(chǎn)品主要性能:

        在功能測(cè)試的基礎(chǔ)上 

        □ 測(cè)試器件的輸入端注入電流。
        □ 測(cè)試器件的輸入端交叉漏電流。
        □ 測(cè)試器件的輸出端“三態(tài)”及“OC”門。
        □ 測(cè)試器件的輸出負(fù)載電流。
        □ 測(cè)試器件的功耗電流。
        □ 查找未知芯片型號(hào)。
        □ 可以單次測(cè)試,也可以循環(huán)測(cè)試.
        □ 可自動(dòng)識(shí)別74系列中的CMOS器件
          (如:74C、74HC、74HCT等)。
        當(dāng)被測(cè)芯片被確認(rèn)為74系列CMOS器件時(shí),儀器將自動(dòng)地對(duì)其進(jìn)行測(cè)試并在顯示屏前顯示一
        個(gè)“C”字(此時(shí)被測(cè)器件電源為TTL電源)。

        本產(chǎn)品所提供的多值測(cè)試參數(shù):

        □ 8種可選擇的測(cè)試電源。
        □ 根據(jù)不同材料的IC設(shè)置多種輸入端注入電流。
        □ 多種測(cè)試電壓比較值。
        □ 功耗測(cè)試。

        以上參數(shù)的不同組合構(gòu)成不同的測(cè)試模式,其中包括用戶自定義模式及全組合測(cè)試模式。

        測(cè)試模式:

        模式O:  全組合參數(shù)測(cè)試。
        模式1-C:操作與模式O相同,但各有其不同的測(cè)試參數(shù)數(shù)值。
        模式D:  任選輸入負(fù)載電流及測(cè)試電源和輸入電流測(cè)試。
        模式E:  自檢。內(nèi)容包括計(jì)算機(jī)部分、顯示、鍵盤及測(cè)試管腳電路。
        模式F:  自編程測(cè)試。

        測(cè)試范圍及測(cè)試品種:

        □ 54 系列;4500 系列;
        □ RAM 256K bit 
        □ 74 系列;40000 系列;
        □ EPROM 64K bit 
        □ 4000 系列;C00 系列。 
        □ 光耦

        目前市場(chǎng)上所見到的某些功能測(cè)試儀無法對(duì)IC器件進(jìn)行直流參數(shù)測(cè)試和比較,因此會(huì)把
        74LS373與74LS374、74LS352、74LS353、74LS125與74LS32及OC門與圖騰柱輸出門等功能性
        能特性*不*的器件混為一類。這種儀器實(shí)用價(jià)值很低,用儀器測(cè)試通過后,有時(shí)上
        機(jī)卻不能正常使用。本產(chǎn)品絕不會(huì)發(fā)生類似錯(cuò)誤。
           該產(chǎn)品器件生產(chǎn)廠、整機(jī)生產(chǎn)廠作器件測(cè)試篩選之用,也適合科研、學(xué)校、部
        隊(duì)、IC經(jīng)銷商使用。它是科技工程技術(shù)人員開發(fā)新產(chǎn)品的得力工具。
         

         相關(guān)資料下載:
        ·
        ICT3100使用說明書
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        ICT3100數(shù)字IC品質(zhì)分選測(cè)試儀
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